場發射掃描式電子顯微鏡

Field-emission scanning electron microscope

 

 

 

 

    

    服務項目

 

      1. 試片之顯微結構觀察及照相FESEM

  二次電子影像(SEILEI)

  背向散射電子影像(BEI)

 

  2. 微區元素成分之定性及半定量分析(EDS)

 

 

  注意

 

  由於電子槍須在超高真空下操作,為防止試片上吸附水氣及雜物影響觀察,試片最好加熱烘烤後,再置入試片室中,因此無法烘烤之試片請事先說明。未處理之試片可能無法觀察到超高解析影像。

 

 生物試片請先自行脫水乾燥。

 

 

   預期回收時間

 

  1.數位影像及EDS電子檔均可以當天取回,請自備空白光碟片CD-R

 

 2.由於觀察區域可能產生差異,因此上機時請在旁陪同 。

 

 

   

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