場發射掃描式電子顯微鏡
Field-emission scanning electron microscope
服務項目
1. 試片之顯微結構觀察及照相—FESEM
二次電子影像(SEI及LEI)
背向散射電子影像(BEI)
2. 微區元素成分之定性及半定量分析(EDS)
注意
由於電子槍須在超高真空下操作,為防止試片上吸附水氣及雜物影響觀察,試片最好加熱烘烤後,再置入試片室中,因此無法烘烤之試片請事先說明。未處理之試片可能無法觀察到超高解析影像。
生物試片請先自行脫水乾燥。
預期回收時間
1.數位影像及EDS電子檔均可以當天取回,請自備空白光碟片CD-R 。
2.由於觀察區域可能產生差異,因此上機時請在旁陪同 。
廠牌、規格&附件 | 服務項目 |
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